Laboratoria rentgenowskie

DYFRAKCJA PROMIENIOWANIA X (XRD) jest niezastąpioną techniką badań strukturalnych materiałów.

TEMATYKA PROWADZONYCH BADAŃ  - badania strukturalne materiałów polikrystalicznych,monokrystalicznych, cienkich warstw oraz nanomateriałów .Identyfikujem ysubstancje, wyznaczamy położenia atomów w komórce elementarnej zarówno bezpośrednio, jak też metodą Rietvelda, badamy przejścia fazowe i defekty sieci krystalicznej. Przeprowadzamy jakościową i ilościową analizę chemiczn ąmetodą rentgenowskiej spektrometrii fluorescencyjnej (WDXRF).

APARATURA

• Dyfraktometr Rigaku D/max Rapid II wyposażony w rotującą srebrną anodę, grafitowy monochromator i dwuwymiarowy detektor w postaci płyty obrazowej.
• Dyfraktometr PANalyticalEmpyrean wyposażony w goniometr w układzie pionowym theta-theta,koło Eulera z obrotem fi ichi istolikiem x,y,z, (pomiar naprężeń, tekstury i reflektometria), detektory: scyntylacyjny i 3D-PIXcel. Pomiary od -193°C do +450°C.
• DyfraktometrSIEMENS D5000. Pomiary od 10 K do 1000 K.
• Czterokołowy dyfraktometr rentgenowskimonokrystaliczny Super Nova Agilent. Technologie detektorem CCD Atlasi goniometrem o geometrii kappa. Pomiary od 15 K do 500 K.
• Generator promieni rentgenowskich Rigaku.
• Rentgenowski spektrometr fluorescencyjny ZSX PrimusII Rigaku (WDXRF) wyposażony w lampę rtg. o anodzie rodowej, liczniki scyntylacyjny i proporcjonalny. Analiza pierwiastków: od B do U.

OSOBY ODPOWIEDZIALNE

• Laboratoria rentgenowskie/X-rayLaboratories
  Prof. dr hab. Alicja Ratuszna
  Email: Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie w przeglądarce obsługi JavaScript.
  Tel/Phone:+48/323497571
• Dyfraktometr Rigaku
  Mgr inż Karolina Jurkiewicz
  Email: Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie w przeglądarce obsługi JavaScript.